Pro měření vrstev
Mikroskopy pro měření tloušťky vrstev jsou určeny pro přesnou bezkontaktní analýzu vícevrstvých materiálů, jako jsou fólie, trubky, povlaky nebo kompozitní výrobky. Umožňují měření jednotlivých vrstev s vysokou přesností, a jsou proto ideálním nástrojem pro kontrolu kvality a optimalizaci výrobních procesů, zejména v plastikářském průmyslu. Díky specializovanému softwaru lze výsledky snadno dokumentovat, vyhodnocovat a vytvářet protokoly z měření.
Digitální mikroskop pro měření vrstev LAYER BASIC
Optický měřicí systém určený pro přesné měření tloušťky jednotlivých vrstev materiálu, zejména při kontrole výrobků vznikajících technologií koextruze.
Digitální mikroskop pro měření vstev LAYER AXIAL
Optický měřicí systém optimalizovaný pro měření tloušťky vrstev u transparentních i neprůhledných koextrudovaných fólií.
Digitální mikroskop pro měření vstev LAYER TRANS
Optický měřicí systém určený pro přesné měření tloušťky jednotlivých vrstev materiálu, zejména u transparentních koextrudovaných fólií.
